Micrografia elettronica a scansione (SEM) che mostra cristallizzazione in fase sigma in acciaio. Ingrandimento: 500X a 8x10'. Metodo di contrasto con interferenza Nomarski.
![Micrografia elettronica a scansione (SEM) che mostra cristallizzazione in fase sigma in acciaio. Ingrandimento: 500X a 8x10'. Metodo di contrasto con interferenza Nomarski. Foto Stock](https://c8.alamy.com/compit/2be0h8r/micrografia-elettronica-a-scansione-sem-che-mostra-cristallizzazione-in-fase-sigma-in-acciaio-ingrandimento-500x-a-8x10-metodo-di-contrasto-con-interferenza-nomarski-2be0h8r.jpg)
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3885 x 3124 px | 32,9 x 26,4 cm | 13 x 10,4 inches | 300dpiData acquisizione:
19 dicembre 2012Fotografo:
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