Micrografia elettronica a scansione (SEM) che mostra cristallizzazione in fase sigma in acciaio. Ingrandimento: 500X a 8x10'. Metodo di contrasto con interferenza Nomarski.

Micrografia elettronica a scansione (SEM) che mostra cristallizzazione in fase sigma in acciaio. Ingrandimento: 500X a 8x10'. Metodo di contrasto con interferenza Nomarski. Foto Stock
Anteprima

Detagli dell'immagine

Collaboratore:

Science History Images / Alamy Foto Stock

ID dell’immagine:

2BE0H8R

Dimensioni dei file:

34,7 MB (1,9 MB Download compresso)

Liberatorie:

Modello - no | Proprietà - noMi occorre una liberatoria?

Dimensioni:

3885 x 3124 px | 32,9 x 26,4 cm | 13 x 10,4 inches | 300dpi

Data acquisizione:

19 dicembre 2012

Altre informazioni:

Questa immagine potrebbe avere delle imperfezioni perché è storica o di reportage.